四探針電阻率檢測(cè)儀

簡(jiǎn)要描述：四探針電阻率檢測(cè)儀雙電組合測(cè)試方法：
利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

更新時(shí)間：2024-07-14

產(chǎn)品型號(hào)：BEST-300C

廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家

訪(fǎng)問(wèn)量：1431

產(chǎn)品詳情

品牌	北廣精儀	產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)
類(lèi)型	數(shù)字式電阻測(cè)試儀	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材
電阻率：	1×10-6～2×106Ω.cm	電???阻：	1×10-5～2×105Ω
電導(dǎo)率：	5×10-6～1×108ms/cm	分辨率：	最小1μΩ
測(cè)量誤差	±5%	測(cè)量電壓量程：	2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度	±（0.1%讀數(shù)）	電流輸出：	直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供
量程：	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100	誤差：	±0.2%讀數(shù)±2字
主機(jī)外形尺寸：	330mm350mm110mm

四探針電阻率檢測(cè)儀步驟及流程

1. 開(kāi)啟電源，預(yù)熱5分鐘.

2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).

3. 設(shè)定所需參數(shù).

4. 測(cè)量樣品

5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

優(yōu)點(diǎn)描述：

1. 自動(dòng)量程

2. 雙電組合測(cè)試方法

3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

4. PC軟件運(yùn)行

5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

6. 可顯示5位有效數(shù)字.

7. 中、英文界面

四探針電阻率檢測(cè)儀適用范圍：

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

參照標(biāo)準(zhǔn)：

1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?/span>

一般目前的四探針電阻率（電導(dǎo)率）測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過(guò)厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，zui常用的是直線(xiàn)型四探針。四根探針的針尖在同一直線(xiàn)上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正?？梢詼y(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱(chēng)方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。