介電常數(shù)及介質損耗測試儀-低頻由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz～2MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。 

概述

GDAT-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

性能特點

◎ 全自動一鍵操作可自動掃描最平穩(wěn)的量程階段

◎微電腦處理器反應迅速可在最短時間內計算出最佳頻段

◎ 夾具數(shù)字顯示

◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 最高2MHz的測試頻率，10mHz分辨率

◎ 平衡測試功能

◎ 變壓器參數(shù)測試功能

◎ 最高測試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

◎ V、I 測試信號電平監(jiān)視功能

◎ 內部自帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點列表掃描測試功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內阻

◎ 內建比較器，10檔分選和計數(shù)功能

◎ 內部文件存儲和外部U盤文件保存

◎ 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。

◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105

主要技術指標： 

ε和D性能：

固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。

 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進

測試信號電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動, 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 :電流模式（內阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能:10檔分選及計數(shù)功能

顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 :可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

介電常數(shù)及介質損耗測試儀-低頻高頻介質樣品（選購件）： 在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。