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硅膠介電常數(shù)測定儀

硅膠介電常數(shù)測定儀

簡要描述:硅膠介電常數(shù)測定儀本電極的設(shè)計(jì)主要是參照國標(biāo)GB1409。本電極采用的是三電極式結(jié)構(gòu),能有效的表面漏電流的影響,使測量電極下的電場趨于均勻電場

更新時(shí)間:2024-07-18

產(chǎn)品型號(hào):GDAT-A

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

訪問量:448

產(chǎn)品詳情
品牌北廣精儀價(jià)格區(qū)間2萬-5萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,交通,汽車,電氣

硅膠介電常數(shù)測定儀外殼由絕緣套筒及鋼板制成的底和蓋組成,底和蓋用螺栓及環(huán)緊固在絕緣套筒的兩端。在電容器的上下兩端有防暈罩。電容器外殼內(nèi)裝有同軸高度拋光的圓柱形高低壓電極。電容器設(shè)有壓力表及氣閥,供觀察內(nèi)部壓力及充放氣使用

技術(shù)參數(shù):

1. 電容器安裝運(yùn)行海拔不超過1000米,使用周圍空氣溫度-10℃~40℃,相對(duì)濕度不超過70%。

2. 電容器的工作頻率為100Hz。

3. 電容器實(shí)測值不大于±0.05%,與標(biāo)稱值不大于±3%

4. 電容器溫度系數(shù) ≤ 3×10-5 /℃

5. 電容器壓力系數(shù) ≤ 3×10-3Mpa

6. 電容器的損耗角正切值不大于1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三檔。

電容器內(nèi)充SF6氣體。在20℃時(shí),壓力為0.4±0.1Mpa

固體絕緣材料測試電極

本電極適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和 玻璃等的相對(duì)介電系數(shù)(ε)與介質(zhì)損耗角正切值(tgδ)的測試本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對(duì)介電系數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角正切值(tgδ

主要技術(shù)指標(biāo)

環(huán)境溫度:20±5℃

相對(duì)濕度:65±5%

高低壓電極之間距離:0~5mm可調(diào)

百分表示值:0.01mm(一粒1.5V氧化銀電池供電)

測量極直徑:70±0.1mm

空極tgδ:≤5×10-5

空極電容量:40±1pF

高測試電壓:2000V

實(shí)驗(yàn)頻率:50/100Hz

體積:Ф210mm H180mm

重量:6kg

硅膠介電常數(shù)測定儀

介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz~2MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。 

概述具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀,體積小,緊湊便攜,便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%,測試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口,能滿足自動(dòng)分選測試,數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

 性能特點(diǎn)


◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 最高1MHz的測試頻率,10mHz分辨率

◎ 平衡測試功能

◎ 變壓器參數(shù)測試功能

◎ 最高測試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能

◎ V、I 測試信號(hào)電平監(jiān)視功能

固體絕緣材料測試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測試。

 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。

測試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 :20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)

測試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)

平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ~ 9.9999kH

C :0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

顯示范圍 :

Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S

D :0.0001 ~ 9.9999

Q :0.0001 ~ 99999

θ :-179.99°~ 179.99°

置源 :電流模式(內(nèi)阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)

工作頻率范圍:20Hz~2MHz 數(shù)字合成,

精度:±0.02%

電容測量范圍:0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯

電容測量基本:±0.05%

損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測試裝置(含保護(hù)電極): 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極,能對(duì)直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測量。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。

微分頭分辨率:10μm

最高耐壓:±42Vp(AC+DC)

電纜長度設(shè)置:1m

最高使用頻率:30MHz 

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